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Hisilicon半导体光电检测设备隔振方案
SOTOMD300-M被动隔振系统
背景:半导体光电测试应用
使用单位:深圳市海思半导体有限公司
地点:广东省深圳市龙岗区坂田华为基地F区
设备:Hisilicon半导体光电检测设备
隔振方案:SOTOMD300-M
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